| HS编码 | 名称 |
|---|---|
| 9031410000 | 变焦光学系统 |
| 9031410000 | 厚度量测仪 |
| 9031410000 | 半自动裸晶测试机 |
| 9031410000 | 半导体颗粒测试仪（旧） |
| 9031410000 | 半导体设备用函数发生器 |
| 9031410000 | 半导体膜厚测量仪（旧） |
| 9031410000 | 半导体硅片检查仪（旧） |
| 9031410000 | 半导体硅片检查仪(旧) |
| 9031410000 | 半导体硅片检查仪 |
| 9031410000 | 半导体用缺陷检查仪/旧 |
| 9031410000 | 半导体用微波检测仪 |
| 9031410000 | 半导体测试机组件 |
| 9031410000 | 半导体测试机(旧) |
| 9031410000 | 半导体检测设备 |
| 9031410000 | 半导体检测仪（旧） |
| 9031410000 | 半导体检查装置 |
| 9031410000 | 半导体晶片光学检测仪(旧) |
| 9031410000 | 半导体晶圆检测仪器(旧) |
| 9031410000 | 半导体晶圆检查测量机（旧） |
| 9031410000 | 半导体晶圆检查测量机(旧) |
| 9031410000 | 半导体晶圆检查测量机 （旧） |
| 9031410000 | 半导体晶圆检查测量机 （旧） |
| 9031410000 | 半导体器件测试机, |
| 9031410000 | 半导体器件检测仪 |
| 9031410000 | 半导体器件器具 |
| 9031410000 | 半导体器件功率循环测试机 |
| 9031410000 | 半导体加工测试机 |
| 9031410000 | 半导体加工测试仪 |
| 9031410000 | 制造半导体器件的检测器具 |
| 9031410000 | 制造半导体器件的检测仪和器具 |
| 9031410000 | 制造半导体器件的检测仪 |
| 9031410000 | 全自动高温晶圆应力检测装置 |
| 9031410000 | 全自动表贴LED分类系统/SLS200C |
| 9031410000 | 全自动芯片扫描检查系统 |
| 9031410000 | 全自动检测机 |
| 9031410000 | 全自动晶粒挑拣机 |
| 9031410000 | 全自动外观检查机 |
| 9031410000 | 全尺寸光伏组件电致发光成像仪[旧] |
| 9031410000 | 光致发光硅片测试仪 |
| 9031410000 | 光致发光测试仪 |
| 9031410000 | 光罩表面缺陷检测装置 |
| 9031410000 | 光罩缺陷检测机（旧，光学检测） |
| 9031410000 | 光电开关用检测器具 |
| 9031410000 | 光栅尺 |
| 9031410000 | 光栅 |
| 9031410000 | 光掩膜版位置精度测量机 |
| 9031410000 | 光学表面形貌测量仪 |
| 9031410000 | 光学测试治具 |
| 9031410000 | 光学宏观缺陷扫描仪主机F30 |
| 9031410000 | 光学厚度量测仪 |
工信部备案:粤ICP备2023016857号-1 
粤公网安备 44060602002471号 
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