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当前位置:首页>工具数据>海关编码HSCODE>第九十章 光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件

9030820000 检测半导体晶片或器件的仪器(包括测试或检验半导体晶片或元器件用的装置)

HS编码名称
9030820000二极管反向冲击测试机
9030820000主板芯片用测试板
9030820000中间继电器校验台
9030820000中间测试机
9030820000中间测试仪
9030820000中继测试仪
9030820000中测测试仪
9030820000中检机(旧)
9030820000中检机
9030820000三维集成器件异质晶圆探针系统
9030820000三相继电保护测试仪
9030820000三极管电性能检测仪
9030820000三极管测试系统
9030820000三极管测试机
9030820000万能转换开关测试台
9030820000X线检查装置
9030820000X射线芯片检测仪
9030820000X射线检测设备
9030820000W2200B温度测试系统
9030820000VTT测试系统
9030820000VLSI集成电路测试仪
9030820000VLSI芯片数字信号测试仪
9030820000VERIGY集成电路测试系统SOC
9030820000U盘测试机 TESTER
9030820000UV LED测试系统
9030820000usb控制芯片验证测试套装
9030820000TSV工艺晶圆探针系统
9030820000TSP测试仪
9030820000TSE测试平台
9030820000TRR测试机
9030820000TRR压二极管测试机
9030820000TESEC全自动测试系统
9030820000SunsVoc测试仪/旧
9030820000SSD测试机
9030820000SMD石英晶体振荡器自动测试机
9030820000Sherrescan测试仪/旧
9030820000SF6气体密度继电器校验仪
9030820000SEMILAB方块电阻测试仪
9030820000SEMILAB单点少子寿命测试仪
9030820000SD卡测试仪
9030820000SBTEK测试平台
9030820000QuickTest牌半导体器件直流测试系统
9030820000PXI集成电路测试仪
9030820000POP测试治具
9030820000PCB电路板测试仪
9030820000PCB板测试机
9030820000PCB板测试仪
9030820000P-8探针台
9030820000OneTouch ES浓缩系统(旧)
9030820000OCXO频率测试系统(旧)
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