| HS编码 | 名称 |
|---|---|
| 9030820000 | 半导体机柜测试机(旧) |
| 9030820000 | 半导体晶片自动测试仪(旧) |
| 9030820000 | 半导体晶片测试系统 |
| 9030820000 | 半导体晶片测试机 |
| 9030820000 | 半导体晶片测试器/牌:XCT/晶片运行时热电能的检测 |
| 9030820000 | 半导体晶片测试器/牌:UNITEST |
| 9030820000 | 半导体晶片测试台 |
| 9030820000 | 半导体晶片测试仪/用途:测试液晶驱动IC的各项技术参数 |
| 9030820000 | 半导体晶片测试仪/变温霍尔效应测试仪 |
| 9030820000 | 半导体晶片测试仪(旧) |
| 9030820000 | 半导体晶片测试仪 |
| 9030820000 | 半导体晶片检测装置 |
| 9030820000 | 半导体晶片检测用探头装置 |
| 9030820000 | 半导体晶片检测仪/工业用/牌NADA/检测对象:半导体晶片 |
| 9030820000 | 半导体晶片检测仪 |
| 9030820000 | 半导体晶片推力拉力测试仪 |
| 9030820000 | 半导体晶片四探针电阻率测试仪 |
| 9030820000 | 半导体晶片参数测试仪 |
| 9030820000 | 半导体晶块测试仪(旧) |
| 9030820000 | 半导体晶圆测试机 |
| 9030820000 | 半导体晶体测试仪 |
| 9030820000 | 半导体晶体功能测试仪 |
| 9030820000 | 半导体放电管测试仪 |
| 9030820000 | 半导体振荡器测试仪 |
| 9030820000 | 半导体开关参数测试仪 |
| 9030820000 | 半导体应变计 |
| 9030820000 | 半导体封装检测机器组件 |
| 9030820000 | 半导体太阳能电池用加速紫外老化测试系统 |
| 9030820000 | 半导体型号测试仪 |
| 9030820000 | 半导体在线测试机 |
| 9030820000 | 半导体器件高精度电学参数测量系统; |
| 9030820000 | 半导体器件雪崩测试仪 |
| 9030820000 | 半导体器件试验设备 |
| 9030820000 | 半导体器件直流电参数测试仪 |
| 9030820000 | 半导体器件直流测试系统 |
| 9030820000 | 半导体器件电气参数测试仪 |
| 9030820000 | 半导体器件电感负载量测试系统 |
| 9030820000 | 半导体器件电感负载测试仪 |
| 9030820000 | 半导体器件用测试机修理费 |
| 9030820000 | 半导体器件用测试机(旧) |
| 9030820000 | 半导体器件用测试机 |
| 9030820000 | 半导体器件热电阻测试系统 |
| 9030820000 | 半导体器件测试设备 |
| 9030820000 | 半导体器件测试机 |
| 9030820000 | 半导体器件测试仪 |
| 9030820000 | 半导体器件检验仪 |
| 9030820000 | 半导体器件检测仪 |
| 9030820000 | 半导体器件参数测量仪器 |
| 9030820000 | 半导体器件分析仪(半导体专用,电参量测量) |
| 9030820000 | 半导体器件分析仪/带记录装置 |



