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当前位置:首页>工具数据>海关编码HSCODE>第九十章 光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件

9030820000 检测半导体晶片或器件的仪器(包括测试或检验半导体晶片或元器件用的装置)

HS编码名称
9030820000半导体机柜测试机(旧)
9030820000半导体晶片自动测试仪(旧)
9030820000半导体晶片测试系统
9030820000半导体晶片测试机
9030820000半导体晶片测试器/牌:XCT/晶片运行时热电能的检测
9030820000半导体晶片测试器/牌:UNITEST
9030820000半导体晶片测试台
9030820000半导体晶片测试仪/用途:测试液晶驱动IC的各项技术参数
9030820000半导体晶片测试仪/变温霍尔效应测试仪
9030820000半导体晶片测试仪(旧)
9030820000半导体晶片测试仪
9030820000半导体晶片检测装置
9030820000半导体晶片检测用探头装置
9030820000半导体晶片检测仪/工业用/牌NADA/检测对象:半导体晶片
9030820000半导体晶片检测仪
9030820000半导体晶片推力拉力测试仪
9030820000半导体晶片四探针电阻率测试仪
9030820000半导体晶片参数测试仪
9030820000半导体晶块测试仪(旧)
9030820000半导体晶圆测试机
9030820000半导体晶体测试仪
9030820000半导体晶体功能测试仪
9030820000半导体放电管测试仪
9030820000半导体振荡器测试仪
9030820000半导体开关参数测试仪
9030820000半导体应变计
9030820000半导体封装检测机器组件
9030820000半导体太阳能电池用加速紫外老化测试系统
9030820000半导体型号测试仪
9030820000半导体在线测试机
9030820000半导体器件高精度电学参数测量系统;
9030820000半导体器件雪崩测试仪
9030820000半导体器件试验设备
9030820000半导体器件直流电参数测试仪
9030820000半导体器件直流测试系统
9030820000半导体器件电气参数测试仪
9030820000半导体器件电感负载量测试系统
9030820000半导体器件电感负载测试仪
9030820000半导体器件用测试机修理费
9030820000半导体器件用测试机(旧)
9030820000半导体器件用测试机
9030820000半导体器件热电阻测试系统
9030820000半导体器件测试设备
9030820000半导体器件测试机
9030820000半导体器件测试仪
9030820000半导体器件检验仪
9030820000半导体器件检测仪
9030820000半导体器件参数测量仪器
9030820000半导体器件分析仪(半导体专用,电参量测量)
9030820000半导体器件分析仪/带记录装置
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