| HS编码 | 名称 |
|---|---|
| 9030820000 | 单体太阳电池测试仪 |
| 9030820000 | 半自动晶粒点测机(旧) |
| 9030820000 | 半自动晶片测试台 |
| 9030820000 | 半自动探测仪 |
| 9030820000 | 半导测试装置 |
| 9030820000 | 半导体静电抗扰度测试器 |
| 9030820000 | 半导体霍尔效应测试仪 |
| 9030820000 | 半导体集成电路芯片测试仪 |
| 9030820000 | 半导体集成电路测试机 |
| 9030820000 | 半导体闸流管测试仪 |
| 9030820000 | 半导体锡膏检测仪 |
| 9030820000 | 半导体金线焊接测试机 |
| 9030820000 | 半导体芯片测试机 |
| 9030820000 | 半导体芯片测试仪 |
| 9030820000 | 半导体芯片在线测试仪器 |
| 9030820000 | 半导体芯片和集成电路可焊性(焊接能力)测试仪 |
| 9030820000 | 半导体自动检测机 |
| 9030820000 | 半导体自动化测试分选机 |
| 9030820000 | 半导体老化板测试机（旧） |
| 9030820000 | 半导体老化板测试机 |
| 9030820000 | 半导体综合特性测试机/旧 |
| 9030820000 | 半导体综合特性测试机(旧) |
| 9030820000 | 半导体综合特性测试机 |
| 9030820000 | 半导体硅片测试仪 |
| 9030820000 | 半导体硅材料分选仪 |
| 9030820000 | 半导体电路测试仪 |
| 9030820000 | 半导体电特性测试机(旧) |
| 9030820000 | 半导体环境光与接近光传感器测试仪 |
| 9030820000 | 半导体特性测试系统 |
| 9030820000 | 半导体特性分析系统（带记录装置） |
| 9030820000 | 半导体热特性测试仪 |
| 9030820000 | 半导体测量设备 |
| 9030820000 | 半导体测试系统 |
| 9030820000 | 半导体测试治具/NVIDIA牌 |
| 9030820000 | 半导体测试检验用设备 |
| 9030820000 | 半导体测试机 |
| 9030820000 | 半导体测试分选机 |
| 9030820000 | 半导体测试仪(旧) |
| 9030820000 | 半导体测试仪(含附件) |
| 9030820000 | 半导体测试仪 工业检测半导体晶片用 |
| 9030820000 | 半导体测试仪 |
| 9030820000 | 半导体测试主机(旧) |
| 9030820000 | 半导体测试主机 |
| 9030820000 | 半导体波形测试仪 |
| 9030820000 | 半导体检测装置 |
| 9030820000 | 半导体检测盒 |
| 9030820000 | 半导体检测器 |
| 9030820000 | 半导体检测仪: |
| 9030820000 | 半导体检测仪,品牌ASM. |
| 9030820000 | 半导体材料测试仪 |
工信部备案:粤ICP备2023016857号-1 
粤公网安备 44060602002471号 
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